Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии. Учебно-методическое пособие
Величко А.А., Кольцов Б.Б.Language:
russian
Pages:
28
File:
PDF, 9.53 MB
IPFS:
,
russian0